瑞普高继续提供100G/400G光模块整体测试方案

继2018年深圳光博会推出100G整体测试方案，瑞普高一直和国内外尖端客户合作提供整体的100G和400G光模块发射测试方案及400G光模接收端的压力测试方案。

瑞普高技术和市场团队应客户的需求在国际仪器第一大厂是德科技（Keysight）的硬件和软件平台上，采用不同型号的采样示波器，光电采样模组，时钟恢复仪及误码率分析仪再配置是德的测试软件（DCApro) 和瑞普高全客制化的控制软件 (RPG Solutions）为研发和生产型客户提供软硬件的“交钥匙”测试方案。  这系列的测试方案能稳定，高效，经济地为客户提供光发信机的测试（含Average Power, OMA, ER, TDEC, Jitter & Mask Testing, TDECQ, Outer OMA等规格), 电口发射测试（含Amplitude, Period, Rise/Fall Time, Jitter, Bit Rate, Levels, Level Skews, Eye Levels等一整套规格）和光模块接收机压力容限测试。

这些整体测试方案为客户在软硬件的选型，搭配，调试和验证上节省了数月的时间。  瑞普高的租赁和以租代购的灵活入手方式和技术团队的现场支持也确保客户能够在最短的时间内以最小的资金和技术投入来生产或产品及产能的更新换代。